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NI将半导体ATE数字功能引入PXI平台
2016-08-09 19:55:45
来源:
未知
NI(美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI) 作为致力于帮助工程师和科学家应对全球最严峻的工程挑战的平台系统供应商,今日宣布推出了NI PXle-6570基于图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量编辑器。 该产品将
射频
集成电路、
电源
管理IC、微机电(
MEMS
)系统设备以及混合信号IC的制造商从传统
半导体
自动化
测试
设备(ATE)的封闭式架构中解放出来。
传统ATE的
测试
覆盖率通常无法满足最新
半导体
设备的要求。通过将
半导体
行业成熟的数字
测试
模式引入到基于PXI开放平台的
半导体
测试
系统(STS)
中,并使用功能强大且人性化的编辑器和调试器进行优化,用户可以利用先进的PXI仪器来降低
射频
和模拟IC的
测试
成本并提高吞吐量。
“PXI数字模式仪器为
半导体
工程师提供所有高端数字
测试
平台才具备的数字性能,因此它的问世无疑是为STS锦上添花,” NI
半导体
测试
副总裁Ron Wolfe表示, “如果生产车间的PXI具备这个功能,他们就可以在满足先进器件的成本和
测试
要求的同时,轻松将其扩展到其他产品的
测试
上。”
NI PXIe-6570数字模式仪器以非常实惠的价格为无线设备供应链和
物联网
设备常用IC提供了所需的
测试
功能。它具有100 MVector/秒的图形向量执行速率,在单个子系统中具有独立的源、捕获引擎、电压/电流参数函数以及高达256个同步数字引脚。 用户可充分利用PXI的开放性和STS,根据需求任意地增加或减少所需的器件,以满足
测试
配置所需的器件引脚和
测试
点数。
全新的数字模式编辑器软件具有以下功能:器件引脚映射图、规范和图形向量编辑环境,有助于更快速地制定
测试
计划;各种内置工具,如多站点和多仪器并行收发可实现产品从开发到投产的无缝对接;shmoo图和交互式引脚视图等工具,可更高效地调试和优化
测试
。
使用相同PXI硬件、TestStand、LabVIEW和数字模式编辑器软件进行特性分析和产品
测试
,可减少数据关联所需的工作,从而缩短产品上市时间。 STS配置内外的PXI硬件占地空间小,可节省厂房空间,而且可使用特性分析实验室台上的标准墙插式
电源
供电。
“PXI已被证明是一个出色的软硬件集成解决方案,可同时适用于产线车间和特性分析实验室,”Wolfe补充道,“NI基于图形向量的数字通道板卡和数字图形向量编辑器是重要的创新产品,可帮助器件制造商和
测试
室降低
测试
成本以及优化
测试
程序开发。”
许多
半导体
公司正基于NI平台和生态系统来构建智能化的
测试
系统。 不仅仅是生产适用的STS系列、1 GHz带宽矢量信号收发仪,fA级源
测量
单元以及TestStand
半导体
模块, 这些系统受益于覆盖了直流到毫米波的600多款PXI产品。 它们采用PCI Express第三代总线接口,具有高吞吐量数据传输能力,同时具有子纳秒级同步以及集成的定时和触发。用户可以利用LabVIEW和TestStand软件环境的高效生产力,以及一个由合作伙伴、附加IP、应用工程师团队组成的活跃生态系统,大幅降低
测试
成本,缩短上市时间,开发面向未来的
测试
设备,满足未来
RF
和混合信号
测试
的各种挑战。
关键词:
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