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NVM测试要求发生演变，泰克4200A一
 消费电子行业日益担心浮栅NVM（非易失性内存）不能继续以每比特更低成本来提供更高的存储功能，而每比特更低成本则是驱动NVM市场发展的根本

远程执行IC验证
 设计任何芯片的关键步骤之一就是在获得第一批芯片后进行的测试。在测试中，您终于可以看到全部悉心工作的成果，并确定芯片是否按照设计和仿

优化宽禁带材料器件的半桥和门驱动
 现代宽禁带功率器件(SiC, GaN)上的开关晶体管速度越来越快，使得测量和表征成为相当大的挑战，在某些情况下几乎不可能实现。隔离探测技术

不惧暗流涌动，跟工程师分享PD暗电
 随着新基建概念的提出，5G和数据中心的建设在2020年进入快车道，海量的光模块需求引领着行业的更新换代，对光器件提出了更高的要求。在光通

使用4200A-SCS参数分析仪进行最佳电
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使用 4215-CVU 电容电压单元进行f
半导体电容一般是皮法 (pF) 级或纳法(nF) 级。许多商用 LCR 或电容表可以使用适当的测量技术测量这些值，包括补偿技术。但是，某些应

【泰克电源设计与测试】致工程师系
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PCIe Gen3/Gen4接收端链路均衡测试
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