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泰克推出带KTE V7.1软件的S530参数测试系统,加速半导体芯片生产
2021-09-30 09:18:02
来源:
泰克科技
中国北京2021年9月29日 – 全球领先的
测试
测量
解决方案提供商泰克科技日前为吉时利S530系列参数
测试
系统发布了KTE V7.1软件,在全球市场最需要的时候帮助加速
半导体
芯片
制造进程。
KTE V7.1首次提供的新选项包括:全新并行
测试
功能和独特的高压电容
测试
选项,适用于新兴
电源
和宽带隙应用。与KTE V5.8相比,KTE V7.1把
测试
时间缩短了10%以上,也就是说,工程师可以减少停机时间并更快地制造
芯片
。
5G
的兴起和
物联网
的发展,推动了全球对
半导体
的需求。全球性短缺不仅要求提高制造能力,还要求能够更快地
测试
正在开发的新
芯片
。泰克发布的这一全新
测试
系统有助于加快制造速度,因为它缩短了
测试
时间,进而加快了新
芯片
的上市速度。
“当今新兴的模拟、宽带隙(SiC和GaN)和功率
半导体
技术需要参数
测试
,以最大限度地提高
测量
性能,适应广泛的产品组合,并最大限度地降低成本。”泰克科技公司系统和软件总经理Peter Griffiths说,“我们的客户,包括世界上最大的
芯片
制造商,将尽享KTE V7.1的增强功能,工程师们将能够以前所未有的速度持续设计创新方案,满足不断变化的市场需求。”
KTE V7.1的发布建立在KTE 7.0版本的基础上,对S530系统的功能和吞吐量作出了改进。全新
测试
头设计可以灵活使用不同的探头插件。升级后的软件和硬件实现了一遍
测试
和高吞吐量。在服务方面,最新发布的系统参考单元(SRU)把校准时间缩短到8小时以下,这意味着可以在一个常规工作班次中就能完成校准。SRU既可以直接购买,也可以通过年度SSO服务计划购买。
重要推进和行业首创
并行
测试
功能进一步改善生产效率,降低
测试
成本
S530 首次作为 KTE V7.1 版本的选项提供,现在拥有强大的并行
测试
选项,可进一步提高生产效率并降低
测试
成本,预计改善范围可达30%(视
测试
和结构而定)。吉时利并行
测试
软件基于S530独特的硬件架构,该架构支持多达8个高分辨率SMU,通过系统中任何全Kelvin端口/行连接到任何
测试
引脚,优化了所有系统资源的效率,以最大限度地提高
测试
吞吐量。
为新兴
电源
和宽带隙应用提供独特的高压电容
测试
功能
当今工程师需要
测试
高压设备,对开关速度更快、开关效率更高的
芯片
的需求正在不断增长。效率越高,使用的功率及产生的热量越少,同时也利好我们的环境。为
测试
工作电压更高的宽带隙器件,工程师正从研发实验室转入制造环节。KTE V7.1中的一个独特的功能是高压电容电压(HVCV)专用选项,它可以与业界唯一的单程
测试
解决方案结合使用,可以
测量
200~1000V电压,能够
测试
高达1100 V的DC偏置电容。这种面向生产准备就绪的功能可以精确
测量
Cdg、Cgs和Cds,支持表征和
测试
功率器件的输入和输出瞬态性能。
使用单探头触地在任何引脚上
测试
高达 1100 V
除提供和
测量
高达1100 V的电压外,一个S530-HV系统中可以最多配置两台2470 SMU,通过S530-HV内部的高压开关矩阵,用户可以在任何
测试
引脚上随时执行这些
测量
。这实现了最大的灵活度,可以满足各种
测试
器件和结构组合的引脚输出要求,消除了与两次
测试
或专用引脚方法有关的吞吐量延迟和更高的成本。
了解更多带有KTE V7.1 软件的吉时利S530参数
测试
系统,
https://www.tek.com.cn/keithley-parametric-test-systems
。
关于泰克科技
泰克公司总部位于美国俄勒冈州毕佛顿市,致力提供创新、精确、操作简便的
测试
、
测量
和监测解决方案,解决各种问题,释放洞察力,推动创新能力。70多年来,泰克一直走在数字时代前沿。欢迎加入我们的创新之旅,敬请登录:tek.com.cn
关键词:
泰克
测试测量
芯片
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