先进的 CMOS 器件建模需要执行大量测量，以分析制程趋势，确定提取典型和边际器件模型所需的数据。管理和分析数据，以确保为复杂的模块提取和验证做出正确的选择，是一项很大的挑战。这通常需要建模团队使用多种软件工具来转换将数据格式，但这样既不精确又缺乏效率。IC-CAP WaferPro 帮助用户以最有效的方式收集和管理大量数据。现在，IC-CAP CMOS 建模套件首次能够与 WaferPro 完美结合。
通过 IC-CAP 2011.04，用户能够在 Agilent CMOS 套件环境中定义器件和测量测试，自动生成可在各种测试设备上执行的 WaferPro 测试方案。通过 WaferPro 表征各种几何形状的器件后，CMOS 提取模块将自动读取测量数据用于模型提取。由于不需要在测量和建模应用之间进行数据传输或格式转化，这极大地提高了流程效率。
Agilent EEsof EDA 事业部产品经理 Roberto Tinti 表示：“从 2010 版本开始，IC-CAP WaferPro 凭借其性能、灵敏度、对测试仪器和系统的广泛支持，以及最大程度地帮助使用实验室设备等优势，已经日益成为客户的理想选择。我们非常高兴地将 WaferPro 的强大功能提供给所有 Agilent CMOS 提取套件用户。这样，我们可以帮助他们更有效地安排从测量到提取从整个流程。”
除了 WaferPro 和 CMOS 套件组合，IC-CAP 2011.04 还增加了对 Windows 7 的支持，并且改进了仿真、测量和编程环境中的几个平台。增强功能包括使用 Verilog-A 和 Agilent ADS 仿真器（在IC-CAP 分析模块中免费使用，无需额外的许可证）进行仿真，并支持 spice 网表中的 PARAM语法格式。此外，WaferPro 现在支持 Tokyo Electron P8/P12 全自动探针台，同时 Agilent B1505A 直流功率分析仪驱动程序支持在多个偏置单元上进行脉冲偏置。
