面向功率晶体管的动态AC测试系统

2015-10-15 22:15:49 来源：未知

星通科技宣布推出所谓的金牛座PDAT（功率器件分析仪）系统的新家庭。能源转换和存储已经成为一个重要的子系统为汽车产业，绿色技术和清洁能源的管理。其中一个关键的组件对于这样的应用是功率MOSFET和IGBT。为了提高效率，可靠性和这样的装置的产率，制造商必须正确地表征动态电气性能。动态测试数据已不能满足来自系统制造商要求测试系统的寄生效应主导了实际设备的动态性能数据。

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在金牛座PDAT测试技术已经克服这些困难，使功率MOSFET和IGBT的生产商，以测试这两个特性和大批量的生产动态交流测试。这是一个技术上具有挑战性的组合，但一种能提高工程实验室和后端测试地板之间的相关性的信任。

金牛座 - PDAT家族的第一款产品，包括交流动态测试模式，如开关，反向偏置安全工作区，二极管恢复，栅极电荷，松开感性负载，短路，高能量，如1500V / 1000A的短路和超执行高带宽大于10,000A /我们电感式开关测试。插入图显示了一个家族电感的开关电流曲线，取得了不同的栅极电压，以每μS2000A的最快转换速率。

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随着可选择的电容器组，低，中的各种能源需求和高压设备可以得到满足，但它是PDAT创新的激励和测量设计，使其具有唯一性。竞争力的解决方案是难以移动的，因为可以近距离的设备处理程序的空间有限投入生产。RFVUIGJvYXJkIGRlc2lnbiB3aXRoIG1pbmlhdHVyaXplZCBjb21wb25lbnRzIGFuZCBpbnRlZ3JhdGVkIGN1cnJlbnQgc2Vuc29ycy4NCiANCg==" style="padding: 0px; margin: 0px auto; font-family: Arial, 宋体; font-size: 14px; line-height: 26px;">明星启用此功能与低寄生DUT板设计与小型化元件和集成电流传感器。

业界领先的转换率是由金牛座PDAT也使集成的电流传感器的设计，高达μS10,000A，让明星来提供这种能力，而不考虑测试和IC处理程序或探针台之间的长期cablings。用于保护系统和处理程序插座万一发生灾难性设备故障，存储的能量自动管理，和超高速定制半导体断路器被使用。

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由于动态功率晶体管测试的复杂性，明星密切关注我们的用户提供个性化插槽，热室，并探讨解决方案，以确保所有的技术要求，可满足最高的系统级性能。生产软件和调试环境（太阳神）借鉴了超过15年的设计团队的经验，进行快速测试时间优化，有专门的环境进行程序开发，调试，生产运行，处理控制和数据分析。这种开放式架构软件还使工程师能够优化测试算法，并根据需要进行任何鉴定或生产需要自动化测试流程。

“为了应对市场需求，电力电子系统已经在电路技术，控制系统和功率半导体的基础技术驱动的创新，说：”博士椿梁楼，星通科技的CEO，“星金牛座PDAT革命性的动态交流测试功能，能够对应功率器件要发展，表征和及时生产，以极大的信心和更低的成本“。

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