5Ge5o23" style="text-decoration: underline; color: blue;">惠瑞捷
半导体科技有限公司针对
晶圆测试和时下对成本最为敏感的
集成电路和
微控制器的成品
测试推出了一款新型
测试系统V101。V101满足了这些
芯片的超低成本要求,以及缓解了日益增长的上市时间压力。
V101
测试系统将于2009年7月14日-16日在美国加利福尼亚州旧金山市莫斯克尼会议中心举行的SEMICON WEST展览会上展出,惠瑞捷展台号为921。
惠瑞捷副总裁暨ASTS事业部总经理魏津博士表示:“V101首次让惠瑞捷成熟的
测试技术专业知识惠及这一细分市场。这一成本敏感型市场要求
测试方案以最低的
测试成本提供最大的整体价值。有鉴于此,我们设计了一种自行安装、自行诊断和自行维护的系统。”
V101
测试系统拥有多达1024个输入/输出通道,数字时钟频率高达100 MHz,其性能保证可以经济高效地
测试目前对成本最为敏感的集成电路和微控制器,尤其是广泛应用于低端移动通信和消费类产品。
V101拥有独特的Tester-on-BoardTM架构,可直接在
测试板上布置数字直流资源,从而简化了
测试仪硬件和配置。该架构支持高效率的多站点
测试,数据吞吐量高,同时可降低
测试成本,而标准化组件使得V101易于安装和维护。
魏津补充说:“V101是一个简单、经济、易用的系统,可为客户提供前所未有的价值。因此,尚未使用过惠瑞捷解决方案的客户也开始对我们的产品感兴趣,其中有需要
测试多种
芯片的客户,还有专注于成本敏感型MCU市场的
测试厂和制造商。”
Tester-on-Board架构
V101架构是直接在
测试板上布置数字直流资源,实现了高性能与低成本的完美结合。这种架构还支持客户根据自己的需求变化,轻松地扩大或降低V101的容量。
优化低成本微控制器测试
V101可经济高效地
测试4/8/16位MCU和其他低管脚数低端IC
芯片。该数字仪器卡拥有8个DPS(设备
电源),数字时钟频率高达100
MHz,深度的矢量内存(60M)和捕捉内存(8
M)满足了
芯片生命周期短以及改版快的要求,低噪音水平提高了精确度和产出。板载多功能直流
测量单元避免了对单独模拟卡的需求,支持嵌入式A/D转换器的
测试,从而降低了成本。
优化晶圆测试
V101是唯一为晶圆进行优化且支持直接探测的
测试系统。利用该系统进行晶圆
测试不需要单独的pogo tower或昂贵的附加接口,极大地降低了成本。V101增强了晶圆
测试的信号保真度并简化了产品配置。
易于使用的软件
V101的操作系统软件使用了惠瑞捷成熟一流的StylusTM ,易学易用。Stylus支持直接EDA连接,缩短了程序开发时间。基于STIL的
测试编程简化了其他基于STIL的
测试程序转换,其与深度矢量和捕捉内存融合后可极大地缩短程序开发时间。
广泛的应用
V101可广泛地用于经济高效地
测试各种最低成本的集成电路器件。
• 4/8/16位MCU
• 显示驱动控制器
• 外围接口
• 通用ASIC
• 嵌入式内存
• 嵌入式模拟至数字转换器
如欲了解与V101有关的更多信息,敬请访问:
www.verigy.com/go/v101 。
关于惠瑞捷半导体科技有限公司
惠瑞捷
半导体科技有限公司作为业内的领导厂商,致力于为全球知名企业提供用于设计验证、检定以及大批量生产
测试所需的先进
半导体测试系统和解决方案。惠瑞
捷提供的可扩展平台可以为各种系统级
芯片(SoC)、闪存和DRAM(包括高速存储在内的)存储系统以及多
芯片封装(MCP)提供各种
测试解决方案。惠瑞
捷先进的分析工具还能帮助客户缩短设计纠错以及提升良率的过程。如欲了解有关惠瑞捷公司更详细的信息,可查询
www.verigy.com 。