采用两步式ADC 提高 ADC 分辨率与精度

2023-01-11 12:27:20 来源:EETOP
为确保系统满足所需的精度规范,透彻了解不同的误差源非常重要。决定信号链精度的最关键要素之一是A/D 转换器(ADC),这是本文的重点。ADC 的精度可以用绝对精度、相对精度和总未调整误差 (TUE)来表征。

一个偶尔让年轻工程师感到困惑的常见问题是:精度与分辨率有何关系?例如,12 位 ADC 是否也是 12 位精度的?在之前关于微分非线性(DNL) 误差规范的文章中,我们简要讨论了分辨率和精度表征 ADC 的两个不同方面。

ADC 设计参数——分辨率

分辨率指定了 ADC 特性曲线中的步数(step)。对于具有统一步长的理想 ADC,分辨率决定了模拟输入电压的最小变化,使输出变化一个计数。例如,具有 12 位分辨率的 ADC可以解析 2 12中的 1部分(4096 中的 1 部分)。换句话说,12 位 ADC可以检测小至满量程值的 0.0244% 的电压。然而,这并不意味着转换误差(ADC 输出的输入和模拟等效值之间的差异)小于 0.0244%。

分辨率主要是一个设计参数,而不是性能规格。它没有指定实际由非理想效应(如 ADC 非线性、偏移和增益误差)决定的转换误差。

ADC 精度:当精度低于分辨率时

在数据转换器中,通常用位数来表示精度。例如,我们可以说这个 ADC 是 12 位精度的。这意味着转换误差小于满量程值除以 2 12。换句话说,转换误差小于一个 LSB(最低有效位)。

考虑到这一点,这可能不是表达性能准确性的准确方法,因为不清楚该特征中实际包含哪些误差源。然而,它似乎通常指的是偏移、增益和积分非线性(INL) 误差的综合影响。转换器的精度可能远低于其分辨率。

例如,考虑下面图 1 中所示的 12 位 ADC。

图 1.  12 位 ADC 示例。

图中,蓝色和紫色曲线分别是理想特性曲线和实际特性曲线。在这个特定的例子中,偏移和增益误差被校准掉了。输出码字 7FD 的宽度为 5 个 LSB,这导致码字 7FE 处出现 4 个 LSB的 INL 错误。此输出码字中的误差由以下原因给出:

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这可以简化为:

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由于转换误差等于满量程值除以 2 10,我们称其精度为 10 位。上图应该可以帮助您更好地理解这一点。首先,请注意,对于给定的满量程值,10 位系统的步进比 12 位系统的步进宽 4 倍。在 12 位系统中,A 点和 B 点之间的差异为 4 LSB,而在 10 位系统中仅为 1 LSB。因此,公式 1 和 2 告诉我们,INL 为 4 LSB 的 12 位系统引入的误差等于 INL 只有 1 LSB 的 10 位系统产生的误差。

从 INL 误差的角度来看,这两个系统具有相同的性能。但是,这并不意味着这两个系统完全相同。例如,12位系统的最大量化误差 比10位系统小四倍(或者说12位系统的量化噪声功率小16倍)。

为了更容易地计算精度,我们可以使用以下等式:

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其中“误差”在原始系统的 LSB 中。将其应用到上面的例子中,我们得到:

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ADC 精度:当精度高于分辨率时

考虑如下所示的3bit特性曲线(图 2)。

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图 2. 3bit特征曲线示例。

在这种情况下,只有代码 010 和 011 的 INL 是非零的。最大的误差出现在代码010处,可以用满量程值写成如下:

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这可以简化为:

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由于转换误差等于满量程值除以 2 6,我们可以说其精度为 6 位。具有 6 位精度的三位 ADC 意味着什么?这意味着我们的 3 位 ADC产生的误差与 INL 为 1 LSB 的 6 位 ADC 产生的误差相同。也就是说,我们ADC的步进是精确控制的(优于ADC的位数)。因此,ADC 仅引入了超出其量化误差的少量误差。

同样,我们可以使用公式 3 计算 ADC 精度并得到:

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分段和两步 ADC 简介

让我们从稍微不同的角度来研究上述 3 位 ADC,以更好地理解为什么可能需要比分辨率更高的精度。

假设我们有一个理想的三位数模转换器(DAC)。我们可以使用此 DAC 将 ADC输出转换回模拟信号。从原始模拟输入中减去 DAC 输出,我们可以找到 3 位量化器的量化误差(或“残留”信号)。这在图 3 中进行了说明。

AIuABfn9tPLouL3Znc0tBeWt59pw6JJuYuhaBd732jbUw/640?wx_fmt=png" data-type="png" data-w="800" data-index="11" src="https://www.eetop.cn/uploadfile/2023/0111/20230111122832931.jpg" _width="677px" crossorigin="anonymous" alt="图片" data-fail="0" style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box !important; overflow-wrap: break-word !important; vertical-align: bottom; height: auto !important; width: 677px !important; visibility: visible !important;"/>

图 3. 显示从 ADC 输入减去 DAC 输出的“残留”信号的示例图。

虽然 ADC 的分辨率只有 3 位,并引入了较大的量化误差,但其线性误差相对较低。由于量化误差是主要的误差来源,因此可以通过第二个 ADC 进一步处理残留信号,以产生高于 3 位的整体分辨率。这是可能的,因为 3 位 ADC 的线性误差不会破坏我们的信号。我们只需要将 3 位 ADC的大量化误差再数字化一次,即可获得更精细分辨率的整体 ADC。这实际上是分段和两步 ADC 的工作原理。图 4 显示了这些 ADC的更详细框图。  

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图 4. 分段和两步 ADC 的示例框图。图片由F. Maloberti提供

第一个 ADC 执行粗略转换并确定最终输出中最高有效位 (MSB) 的 M 位。然后残留信号由第二个 N 位 ADC 处理。第二级执行精细转换并生成输出的 N 位 LSB。这种结构允许我们用转换速度换取功耗和硅片面积。例如,两步架构需要的比较器数量明显少于全闪存转换器。

对于两步架构,粗略 ADC 的精度需要比其分辨率好得多。除了粗略ADC,DAC和减法器对残差信号的精度也起着关键作用。这就是为什么要仔细确定每个模块的最大允许误差,以实现一定的整体精度性能。

现在我们已经确定了分辨率和精度之间的差异,让我们看一个简单的例子,看看我们如何计算具有非零偏移和增益误差的 ADC 的精度。

使用 TUE 评估精度——非零偏移和增益误差

根据设计目标,可以使用绝对精度或相对精度定义来计算公式 3 中的“误差”项。实践中常用的更好选择是 TUE 规范。可以使用增益、偏移和 INL 误差的最大值的和方根 (RSS) 来计算最大 TUE。这可以在下面的等式中看到:

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RSS方法基于误差项不相关的假设,因此所有误差项同时处于最大值的概率很小。例如,使用这种方法,我们可以假设对于 12 位 ADC,我们有:

  • INL = 3 LSB

  • 偏移误差 = 2.5 LSB

  • 增益误差 = 3 LSB

假设应用于 ADC 的模拟输入可以在 ADC 的整个输入范围内取值,我们可以将总误差估算为:

AIxScsC56aRlxUZddnXcBdLMzPoblIibUvJn5JYnSut5jUn9w/640?wx_fmt=png" data-type="png" data-w="782" data-index="14" src="https://www.eetop.cn/uploadfile/2023/0111/20230111122834902.jpg" _width="677px" crossorigin="anonymous" alt="图片" data-fail="0" style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box !important; overflow-wrap: break-word !important; vertical-align: bottom; height: auto !important; width: 677px !important; visibility: visible !important;"/>

现在,应用等式 3,我们得到:

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我们有时将公式 3 得到的精度称为“精度的有效位数”。如果我们应用校准来抵消偏移和增益误差,我们将只剩下 INL 误差。请注意,为了使用 TUE 方程,所有误差项都应以相同的单位(上例中的 LSB)表示。

实际上,ADC 只是误差源之一。其他几个器件(例如输入驱动器、电压基准等)可能会增加额外的误差,因此必须予以考虑。

原文:
https://www.allaboutcircuits.com/technical-articles/adc-resolution-vs-adc-accuracy-subrange-adc-two-step-adc-and-total-unadjusted-error/



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