恩智浦半导体NV：利用TrEOS保护器件攻克新的USB ESD挑战

2015-10-16 18:29:15 来源：未知

至关重要的是电子系统的设计者，以保护每一个产品抗ESD的破坏力。系统，组件和接口都处于危险之中，尤其是在芯片几何尺寸的不断缩小和数据传输速度变得更快。创新的产品往往会带来他们新的要求和新的挑战，需要新的解决方案。其中一个例子是最新的USB接口标准，它带来了更快的数据速率和新的USB C型连接器。

新的保护水平

对于USB 3.1的ESD保护的一个新的水平，主要是因为其非常高的10 Gbps的数据速率必要。表1提供了最近的USB标准和它们的最大数据传输速率的摘要。在两倍的USB 3.0的，快速的数据速率使得它更难以保持信号完整性。例如，ESD保护二极管的小固有电容成为潜在的信号干扰的一个因素。另外，快速系统的较小的结构趋向于对ESD更敏感，要求更加可靠的ESD溶液。

随着我们新的Treo智能手机保护器件系列，我们已经取得了较高水平的ESD保护，非常适用于USB 3.1接口。它提供低电容，高系统级鲁棒性和低钳位电压的行业基准组合。

满足信号完整性要求

Treo智能手机设备的电容量在0.3 pF的范围单向的设备，而双向器件提供的电容下降到仅0.1 pF的。低电容本身不足以实现与良好的信号完整性的系统。信号线应尽可能短，对称越好，存根避免。mcuDQoNCg==" style="padding: 0px; margin: 0px auto; font-family: Arial, 宋体; font-size: 14px; line-height: 26px;">恩智浦提供包的概念，它支持RF型路由。

这篇文章提供了什么，你可以在我们的新技术白皮书“ESD为USB 3.1和C型保护”找到刚才的味道：它给你一个深入的分析，综合考虑改变这种流行的接口如何与挑战对保护USB 3.1产品ESD冲击。它涵盖的主题包括如何读眼图和传输线脉冲（TLP）的测量，系统级的保护，等等。它还包括一个看看一些新的解决方案 - 包括Treo智能手机保护器件系列。您也可以下载白皮书，我们的ESD技术的网站。

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