安森美半导体的硅光电倍增管 (SiPM) 直接飞行时间 (dToF) 激光雷达平台为工业测距应用提供现成的设计

2020-11-10 14:50:09 来源:安森美
该平台展示使用安森美半导体硅光电倍增管 (SiPM) 传感器专知的直接飞行时间激光雷达
 
2020年11月10日 — 推动高能效创新的安森美半导体 (ON Semiconductor,美国纳斯达克上市代号:
ON),推出了由该公司硅光电倍增管 (SiPM) 技术实现的单点直接飞行时间 (dToF) 的激光雷达方案。
 
光检测和测距或激光雷达的应用在所有领域都在增长,包括机器人和强制要求毫米范围精度的工业接近感知。它通常基于dToF方法,测量通常在近红外 (NIR) 波长范围内的一个光脉冲往返于一个物体所需的时间。
 
尽管原理很简单,但其应用可能会带来挑战性,例如周围太阳光较强等环境因素。为了准确确定范围,接收器需要捕获尽可能多的信号。就响应时间和灵敏度而言,传统的光电二极管在这方面会受到影响。安森美半导体开发的硅光电倍增管 (SiPM) 传感器提供更快的响应时间和高检测效率,克服了这些不足。该参考平台使用安森美半导体第二代SiPM 传感器RB系列,在红色和NIR范围都带来更高的性能。
 
安森美半导体开发的SiPM dToF激光雷达平台提供低成本、单点激光雷达的完整方案,原始设备制造商 (OEM) 可灵活调整并投入生产,以创建工业测距应用。它包括NIR激光二极管、SiPM传感器和光学器件,以及将检测到的信号转换为经过时间,以及将经过时间转换为距离所需的数字处理。
 
为加快客户的上市时间,安森美半导体提供该参考平台的所有设计数据,涵盖原理图、物料单 (BoM) 、gerber文件和PCB设计文件。客户还可以访问基于PC的图形用户接口(GUI),提供随时间变化的测量结果的图形。生成的直方图进一步证明该系统在测距、碰撞检测和3D制图等应用的能力。
 
安森美半导体物联网主管Wiren Perera说:“使用dToF激光雷达进行测距,满足了许多应用的关键需求,从自主导航到地图绘制到监控。但是,开发基于dToF激光雷达的系统可能具有挑战性。我司的这个平台显然证实这领先技术的效用。有了经验证的设计,客户就能更快地进行概念验证,并迅速将产品推向市场。”
 
SiPM dToF激光雷达平台可检测10厘米至23米距离的物体。使用提供的GUI提供开箱即用的体验,使工程师可以立即开始评估该技术。该设计已获得美国食品和药物管理局 (FDA) 一类认证,并符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040.10 / 1040.11激光安全标准。
 
更多资源及文档:
SiPM dToF激光雷达平台登陆页
SiPM dToF激光雷达平台产品页 (SECO-RANGEFINDER-GEVK)
RB系列SiPM
物联网 (IoT) 方案
激光雷达方案
视频:什么是工业测距?
介绍硅光电倍增管 (SiPM) (应用注释)
SiPM 用于直接ToF测距应用(白皮书)
 
 
关于安森美半导体

安森美半导体(ON Semiconductor,美国纳斯达克上市代号:ON)致力于推动高能效电子的创新,使客户能够减少全球的能源使用。安森美半导体领先于供应基于半导体的方案,提供全面的高能效电源管理、模拟、传感器、逻辑、时序、互通互联、分立、系统单芯片(SoC)及定制器件阵容。公司的产品帮助工程师解决他们在汽车、通信、计算机、消费电子、工业、医疗、航空及国防应用的独特设计挑战。公司运营敏锐、可靠、世界一流的供应链及品质项目,一套强有力的守法和道德规范计划,及在北美、欧洲和亚太地区之关键市场运营包括制造厂、销售办事处及设计中心在内的业务网络。更多信息请访问http://www.onsemi.cn


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