zoujunlin的个人空间 https://blog.eetop.cn/670195 [收藏] [复制] [分享] [RSS]

空间首页 动态 记录 日志 相册 主题 分享 留言板 个人资料

日志

n16名词小注

热度 3已有 3977 次阅读| 2017-4-12 18:03 |系统分类:芯片设计

WPE  Well Proximity Effect
nwell/pwell  与 pmos nmos 的距离会影响管子的阈值,原因在于,阱注入的时候,阱的侧壁造成散射,让阱边界附近的杂质浓度在 与 阱中心区域的杂质浓度不一致,从而造成做在阱里的mos管的阈值差异.
对于n16工艺,只有core NMOS 在水平方向的WPE需要注意,其他MOS的WPE可忽略(原因暂时不知)

CPO 当nmos,pmos 非常靠近CPO,造成两个管子的有效poly长度不一致,他们的Ld电流将不一致,在做match时需要注意

LOD  length of OD
OD边界  到  gate 的距离会影响管子的阈值和饱和电流,在做match时需要注意

OSE  OD  space  effect
OD 间距会影响管子性能,匹配时注意保持器件的OD间距一致

MBE metal boundary effect
此处的metal指的是 gate metal, 对于nmos/pmos,gate metal 上覆盖的NP/PP 层边界,也会影响管子的阈值和饱和电流,原因不知。

属于n16特有的特性并不多
3

点赞

刚表态过的朋友 (3 人)

评论 (0 个评论)

facelist

您需要登录后才可以评论 登录 | 注册

  • 关注TA
  • 加好友
  • 联系TA
  • 0

    周排名
  • 0

    月排名
  • 0

    总排名
  • 0

    关注
  • 9

    粉丝
  • 0

    好友
  • 3

    获赞
  • 3

    评论
  • 987

    访问数
关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-4-20 08:48 , Processed in 0.024220 second(s), 14 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
返回顶部