Investigation on sealring rules for IC product reliability

jian1712 · 发表于 2010-1-11 17:57:08

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Investigation on seal-ring rules for IC product reliability in 0.25-um CMOS technology
Shih-Hung Chen and Ming-Dou Ker
这篇论文介绍了sealring的宽度以及sealring和core circuit之间的间距对于芯片的性能的影响，还是值得看看的。

seal-ring rules for IC product reliability.pdf (651.08 KB, 下载次数: 540 )

chocobocn · 发表于 2010-1-11 18:19:27

太老了，点25工艺现在还有几个用的？

sjxu007 · 发表于 2010-1-13 09:52:51

Ming-Dou Ker 怎么啥都可以研究？

ahbut · 发表于 2010-1-20 12:00:55

多謝!

alenanderson · 发表于 2010-3-17 08:55:03

Product.Reliability

analogmind · 发表于 2010-3-23 17:46:20

有意思的

alsome · 发表于 2010-3-25 13:49:46

谢谢了，学习学习

alsome · 发表于 2010-3-26 13:37:40

thank you for your share

ghifi37 · 发表于 2010-4-16 16:13:57

文章还是挺好的，seal ring跟特征尺寸关系不大。
里面还有具体的测试结果，这应该很有参考价值。谢谢楼主分享！

yxxjtu · 发表于 2010-6-10 23:35:05


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[资料] Investigation on sealring rules for IC product reliability

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