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[资料] THE IMPACT OF INNER PICKUP ON ESD ROBUSTNESS OF MULTI-FINGER NMOS

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发表于 2010-1-11 17:50:34 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 jian1712 于 2010-1-11 17:57 编辑

THE IMPACT OF INNER PICKUP ON ESD ROBUSTNESS OF MULTI-FINGER NMOS IN NANOSCALE CMOS TECHNOLOGY
ker-mingdou
这篇论文主要介绍了先进工艺中nmos的相邻source之间是否加衬底接触对其esd性能的影响,很不错的,结论是不加较好,但是在0.5u的工艺中,有些工艺要求相邻的source之间必须加衬底接触。

THE IMPACT OF INNER PICKUP ON ESD ROBUSTNESS OF MULTI-FINGER NMOS.pdf (191.54 KB, 下载次数: 177 )
发表于 2010-1-16 13:19:39 | 显示全部楼层
Thanks
发表于 2010-4-22 09:01:37 | 显示全部楼层
学习一下
发表于 2010-4-23 16:05:14 | 显示全部楼层
谢谢,正好目前遇到ESD的问题
发表于 2010-5-26 17:49:22 | 显示全部楼层
了解一下
发表于 2010-6-5 06:51:40 | 显示全部楼层
ker的得意创新啊!
发表于 2010-6-9 01:11:28 | 显示全部楼层
thankyou,lz
发表于 2010-9-22 11:54:39 | 显示全部楼层
好东西啊,看看
发表于 2012-3-16 13:26:55 | 显示全部楼层
谢谢楼主
发表于 2012-12-19 15:14:59 | 显示全部楼层
非常好,谢谢!
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