Synopsys DFTMAX LogicBIST被Renesas所采用，为其实现汽车混合信号上电自检功能

2018-01-30 17:12:23 来源：未知

提供汽车应用所需的上电自检功能（POST）
对现有的DFTMAX压缩设计流程稍加修改，便可实现方便部署
在特定时间要求内检查故障，并采用SpyGlass DFT ADV来提高故障覆盖率

近日，全球第一大芯片设计自动化EDA软件供应商及全球第一大芯片接口IP供应商、软件质量和安全解决方案的全球领导者Synopsys宣布，全球集成电路解决方案领先供应商Renesas公司已在其混合信号大规模集成电路（LSI）设计中部署了Synopsys DFTMAX™ LogicBIST解决方案，以满足汽车系统集成商对汽车安全完整性等级的要求。DFTMAX LogicBIST方案可使汽车电子系统在加电时检查故障或发现可能导致故障的情况，并报告它们的存在。此外，这种自检功能可在很短的运行时间内实现高故障覆盖率以满足汽车电子系统级要求。Renesas的工程师可以非常便捷地将DFTMAX LogicBIST纳入其原有设计流程当中，同时还加入了Synopsys SpyGlass^®DFT ADV技术，以进一步提高故障覆盖率。在Synopsys的协助下，根据ISO 26262汽车功能安全标准第8部分，Renesas认证了DFTMAX LogicBIST可以部署于汽车设计。

近年来，汽车制造商一直在推进和加速部署电子高级驾驶辅助系统（ADAS），以协助司机驾驶并减少事故。但如果这些系统发生故障，则将可能导致不可接受的后果。因此汽车制造商与其电子系统的供应商一直展开合作，以期不断提高集成电路（IC）可靠性和功能安全性。Synopsys DFTMAX LogicBIST解决方案提供的用于检测和标记可能导致故障问题的安全机制解决方案满足了广泛被采用的ISO 26262汽车功能安全标准中的关键要求。使用DFTMAX LogicBIST，并遵循最优的工程操作，可以将影响汽车IC功能安全元件的故障风险降至最低。

Renesas汽车解决方案事业部的汽车模拟业务部门汽车模拟战略规划部高级经理Akira Omichi表示：“我们的混合信号汽车设计需要使用最小尺寸的芯片级上电自检解决方案，并为数字逻辑提供高故障覆盖率，以确保功能的安全。而Synopsys DFTMAX LogicBIST解决方案即使对于数字逻辑数量相对较少的设计，也能满足这些要求。并且由于其已经预留了容易使用的硬件接口，使得DFTMAX LogicBIST非常易于部署。我们计划将其广泛部署在我们的混合信号LSI设计当中。”

Synopsys设计部测试自动化副总裁Amit Sanghani 说：“我们非常看重与Renesas的建设性合作。DFTMAX LogicBIST被Renesas所采用，验证了这一方案在汽车电子系统设计中的实用性和有效性。DFTMAX LogicBIST使设计者可以通过在短时间内实现高故障覆盖率来满足系统设计要求。我们致力于帮助工程师实现汽车应用对电子系统的特殊测试要求，使其快速符合ISO 26262标准。”

关于Synopsys测试平台

Synopsys测试平台由以下技术组成：DFTMAX Ultra、DFTMAX、TetraMAX^®和TetraMAX II技术，用于功率感知逻辑测试和物理诊断; DFTMAX LogicBIST用于系统内自测试; SpyGlass DFT ADV用于可测性分析; DesignWare^® STAR分级系统用于对系统级芯片（SoC）上的模拟/混合信号IP、数字逻辑块、存储器和接口IP进行自动分层测试; DesignWare STAR存储器系统^®用于嵌入式测试、维修和诊断;Yield Explorer^®用于进行以设计为中心的产量分析。Synopsys测试解决方案将Design Compiler^®RTL综合与嵌入式测试技术相结合，优化测试的时序、功耗、面积和拥塞以及功能逻辑，从而加快输出结果的时间。Synopsys测试解决方案能够横跨Synopsys设计平台进行紧密集成，包括Design Compiler合成，IC Compiler™II布局布线和PrimeTime^®时序分析，以缩短周转时间，同时满足设计和测试目标，达到更高的缺陷覆盖率，实现更快速的增产。

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